LET-2000D力钛科（Letak）半导体静动态测试系统是满足IEC60747-8/9、JESD24标准，旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要的场合。特别对于应用第三代半导体的需要，有着较高的系统带宽，可以有效的测量出实际的器件参数。